Сканирующий профилометр NanoScan 2s Ge/9/5
Сканирующий

Сканирующий профилометр NanoScan 2s Ge/9/5

В наличии
По запросу

Общее описание

NanoScan 2s Ge/9/5 - сканирующий щелевой профилометр с германиевым фотодетектором, работающий в диапазоне длин волн от 700 до 1800 нм. Система активно используется для анализа излучения лазеров. Ключевые особенности: Размер пятна от 20 мкм до 6 мм Получение результатов в режиме реального времени Уровень мощности: от 10 нВт до 10 Вт Интерфейс: USB 2.0 Компания ЛЛС является дистрибьютором компании Ophir на территории Российской Федерации и стран Таможенного Союза, и предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции, полную техническую поддержку, а также поставку образцов.