Система профилирования толщины и поверхностей
Система

Система профилирования толщины и поверхностей

В наличии
Длина волны:
Диапазон глубины сканирования:
Скорость сбора данных (A-сканирование):
Осевое разрешение (ось Z):
Размер светового пятна (разрешение по боковой оси [XY]):
Расстояние зазора:
Повторяемость:
Диапазон измерения толщины:
Материалы:
Отражательная способность материалов:
По запросу

Общее описание

Система профилирования MICROCAM обеспечивает быстрое и надежное бесконтактное измерение толщины прозрачных и полупрозрачных материалов. Ключевые особенности: Широкий спектр 3D-измерений с микронной точностью на внутренних и внешних поверхностях: измерение шероховатости; обнаружение дефектов - трещины, царапины Измерение толщины покрытий полупрозрачных материалов Полностью настраиваемый автоматический контроль Волоконно-оптические зонды легко интегрируются в полностью автоматизированные и роботизированные системы контроля Сокращенное время цикла проверки: до 100 000 измерений в секунду, каждое из которых представляет собой трехмерную топографическую точку Автоматическая отчетность, позволяющая сэкономить время: после сканирования можно автоматически создавать отчеты о непродолжительности работы, а результаты заносить в журнал. Возможность адаптации к агрессивным средам: радиоактивным, очень горячим, криогенным, вакуумным и т. д. АО «ЛЛС» является дистрибьютором компании Novacam Technologies Inc. на территории РФ и стран СНГ и предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции, полную техническую поддержку. Получить дополнительную информацию вы можете, обратившись в нашу компанию.

Применение

  • Офтальмология: контроль контактных линз и интраокулярных линз (ИОЛ)
  • Полупроводники: покрытие MEMS-устройств, полупроводников, пластин, гибридных схем, топливных и солнечных элементов
  • Автомобилестроение: защитные пленки
  • Оптика: контроль толщины травления и напыления на волноводы
  • Электроника: нанесение толстопленочного фоторезиста на электронные пластины.