Unknown
Система пробоподготовки ALLIED MultiPrep™
ГРСИ
В наличии
По запросу
Общее описание
Описание Система MultiPrep ™ обеспечивает точную полуавтоматическую пробоподготовку широкого спектра материалов для микроскопического анализа (оптического, сканирующей электронной микроскопии - SEM, ионно-лучевой литографии - FIB, просвечивающей электронной микроскопии - TEM, атомно-силовой микроскопии - AFM, и т.д.) Возможности включают: параллельную полировку, полировку под углом или полировку характерной для данной пробы. Система обеспечивает хороший результат независимо от уровня пользователя. Сделано в США